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磁粉探傷中退磁后常使用什么來檢測剩磁效果
作者：宏旭探傷機(jī) 發(fā)表時間：2016/3/11 15:41:40
現(xiàn)今在磁粉探傷中一般選用高斯計(jì)及毫特斯拉計(jì)來檢測磁粉探傷儀或磁粉探傷機(jī)、退磁機(jī)的退磁效果，那么這類檢測退磁的計(jì)量儀器它們的原理是什么呢？
我們現(xiàn)在對于工件表面的剩磁要求是低于2GS，對于這么小的數(shù)值，需要比較靈敏的元器件來檢測，在最早是利用霍爾傳感器來檢測。
其原理是通電的片狀N型半導(dǎo)體的平面與磁場強(qiáng)度為H的磁場相互垂直，后在片狀N型半導(dǎo)體的非通電側(cè)形成霍爾電位差UH，其三者之間的關(guān)系為UH=RHμHI/δ，其中δ為半導(dǎo)體板的厚度，RH霍爾系數(shù)，μ為磁導(dǎo)率。
利用此原理制成的高斯計(jì)及毫特斯拉計(jì)測量精度高，測量結(jié)構(gòu)簡單，可直觀顯示缺陷磁場的大小和方向。
后期又發(fā)現(xiàn)可以利用磁敏二極管來代替霍爾傳感器制成精度更高的高斯計(jì)及毫特斯拉計(jì)。
其原理是磁感應(yīng)強(qiáng)度在0.1T以下時，磁敏二極管輸出特性曲線近似線性關(guān)系，其性能相當(dāng)于普通二極管的PN結(jié)特性。
利用此原理制成的高斯計(jì)及毫特斯拉計(jì)測量精度更高，測量結(jié)構(gòu)簡單。
以上就是磁粉探傷中一般選用高斯計(jì)及毫特斯拉計(jì)來檢測磁粉探傷儀或磁粉探傷機(jī)、退磁機(jī)的退磁效果的原因。
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